Микрозонд - История изменений

Mineralog: /* Литература */

2017-03-04T10:43:38Z

Литература

← Предыдущая		Версия 10:43, 4 марта 2017
Строка 22:		Строка 22:
	[http://geo.web.ru/db/msg.html?mid=1183034 Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Москва,Техносфера, 2008. 232 стр. 8 с. цв. вклейками]		[http://geo.web.ru/db/msg.html?mid=1183034 Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Москва,Техносфера, 2008. 232 стр. 8 с. цв. вклейками]
	<br>[http://www.solid.iei.liu.se/Education/TMHL17/lecture_notes/ArtomSEMoMPA.pdf Electron Probe Microanalysis (EPMA). By John J. Donovan (portions from J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, "Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis", 2nd Ed., Plenum, New York, 1992)]		<br>[http://www.solid.iei.liu.se/Education/TMHL17/lecture_notes/ArtomSEMoMPA.pdf Electron Probe Microanalysis (EPMA). By John J. Donovan (portions from J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, "Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis", 2nd Ed., Plenum, New York, 1992)]
		+	<br>[http://diposit.ub.edu/dspace/bitstream/2445/32146/1/MT04%20-%20Electron%20Probe%20Microanalysis%20_ed2.pdf Electron probe microanalysis: principles and applications. Handbook of instrumental techniques from CCiTUB.Xavier Llovet Unitat Microsonda Electrònica, CCiTUB, Universitat de Barcelona. Lluís Solé i Sabarís, 1-3. 08028 Barcelona. Spain. ]
	[[Category:Методы исследования минерального вещества]]		[[Category:Методы исследования минерального вещества]]

Mineralog: /* Литература */

2017-03-04T10:41:09Z

Литература

← Предыдущая		Версия 10:41, 4 марта 2017
Строка 21:		Строка 21:
	===Литература===		===Литература===
	[http://geo.web.ru/db/msg.html?mid=1183034 Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Москва,Техносфера, 2008. 232 стр. 8 с. цв. вклейками]		[http://geo.web.ru/db/msg.html?mid=1183034 Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Москва,Техносфера, 2008. 232 стр. 8 с. цв. вклейками]
		+	<br>[http://www.solid.iei.liu.se/Education/TMHL17/lecture_notes/ArtomSEMoMPA.pdf Electron Probe Microanalysis (EPMA). By John J. Donovan (portions from J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, "Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis", 2nd Ed., Plenum, New York, 1992)]
	[[Category:Методы исследования минерального вещества]]		[[Category:Методы исследования минерального вещества]]

Mineralog в 10:39, 4 марта 2017

2017-03-04T10:39:00Z

← Предыдущая		Версия 10:39, 4 марта 2017
Строка 19:		Строка 19:
	* http://en.wikipedia.org/wiki/Microprobe		* http://en.wikipedia.org/wiki/Microprobe

		+	===Литература===
		+	[http://geo.web.ru/db/msg.html?mid=1183034 Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. Москва,Техносфера, 2008. 232 стр. 8 с. цв. вклейками]
	[[Category:Методы исследования минерального вещества]]		[[Category:Методы исследования минерального вещества]]

Petrographer: категоризация

2010-02-27T11:16:03Z

категоризация

← Предыдущая		Версия 11:16, 27 февраля 2010
Строка 19:		Строка 19:
	* http://en.wikipedia.org/wiki/Microprobe		* http://en.wikipedia.org/wiki/Microprobe

-	[[~~Категория~~:Методы ~~анализа~~ вещества]]	+	[[Category:Методы исследования минерального вещества]]

Pavel: /* Ограничения метода */

2007-01-22T08:02:54Z

Ограничения метода

← Предыдущая		Версия 08:02, 22 января 2007
Строка 10:		Строка 10:
	#Невозможно определить различные [[валентность\|валентные]] состояния атомов. В последние годы появились методики разделения пиков S2-,S6+(сульфидной и сульфатной серы), Fe2+ и Fe3+. Пока эти методики недостаточно отлажены для рутинного применения.		#Невозможно определить различные [[валентность\|валентные]] состояния атомов. В последние годы появились методики разделения пиков S2-,S6+(сульфидной и сульфатной серы), Fe2+ и Fe3+. Пока эти методики недостаточно отлажены для рутинного применения.
	#Не определяются самые легкие элементы, с атомной массой меньше [[Углерод\|углерода]]. Современные приборы уже позволяют определять элементы, начиная с Бора.		#Не определяются самые легкие элементы, с атомной массой меньше [[Углерод\|углерода]]. Современные приборы уже позволяют определять элементы, начиная с Бора.
-	#Высокий [[предел обнаружения]], можно определить концентрации элементов не ниже 0.05%. Порог обнаружения зависит от силы тока и времени накопления. Современные приборы позволяют понизить ~~орог~~ обнаружения до 10-50 ppm.	+	#Высокий [[предел обнаружения]], можно определить концентрации элементов не ниже 0.05%. Порог обнаружения зависит от силы тока и времени накопления. Современные приборы позволяют понизить порог обнаружения до 10-50 ppm.

	===См. также===		===См. также===

Pavel в 08:02, 22 января 2007

2007-01-22T08:02:22Z

← Предыдущая		Версия 08:02, 22 января 2007
Строка 1:		Строка 1:
-	'''Микрозонд''' — общепринятое название ~~рентгеновский~~ микроанализа - метода ~~определния~~ состава вещества в малом объеме.	+	'''Микрозонд''' — общепринятое название рентгеновского микроанализа - метода определения состава вещества в малом объеме.

-	Принцип действия ~~миркозонда~~ следующий: генерируется пучок [[электрон]]ов, который собирается [[Электромагнитная линза\|электромагнитными линзами]] в узкий пучок - электронный зонд. ~~попадая~~ в образец электроны выбивают электроны с оболочек атомов вещества, и вызывают [[рентгеновское излучение]]. Каждый элемент излучает на характерном для него наборе частот, и может быть по нему идентифицирован. Концентрации элементов определяются по интенсивности излучения.	+	Принцип действия микрозонда следующий: генерируется пучок [[электрон]]ов, который собирается [[Электромагнитная линза\|электромагнитными линзами]] в узкий пучок - электронный зонд. Попадая в образец, электроны выбивают электроны с оболочек атомов вещества, и вызывают [[рентгеновское излучение]]. Каждый элемент излучает на характерном для него наборе частот, и может быть по нему идентифицирован. Концентрации элементов определяются по интенсивности излучения.

	===Подготовка образцов===		===Подготовка образцов===
Строка 8:		Строка 8:
	===Ограничения метода===		===Ограничения метода===

-	#~~Не возможно~~ определить различные [[валентность\|валентные]] состояния атомов.	+	#Невозможно определить различные [[валентность\|валентные]] состояния атомов. В последние годы появились методики разделения пиков S2-,S6+(сульфидной и сульфатной серы), Fe2+ и Fe3+. Пока эти методики недостаточно отлажены для рутинного применения.
-	#Не определяются самые легкие элементы, с атомной массой меньше [[Углерод\|углерода]].	+	#Не определяются самые легкие элементы, с атомной массой меньше [[Углерод\|углерода]]. Современные приборы уже позволяют определять элементы, начиная с Бора.
-	#Высокий [[предел обнаружения]], можно определить концентрации элементов не ниже 0.05 %	+	#Высокий [[предел обнаружения]], можно определить концентрации элементов не ниже 0.05%. Порог обнаружения зависит от силы тока и времени накопления. Современные приборы позволяют понизить орог обнаружения до 10-50 ppm.

	===См. также===		===См. также===

Stepanov в 15:05, 21 января 2007

2007-01-21T15:05:15Z

Новая страница

'''Микрозонд''' — общепринятое название рентгеновский микроанализа - метода определния состава вещества в малом объеме.

Принцип действия миркозонда следующий: генерируется пучок [[электрон]]ов, который собирается [[Электромагнитная линза|электромагнитными линзами]] в узкий пучок - электронный зонд. попадая в образец электроны выбивают электроны с оболочек атомов вещества, и вызывают [[рентгеновское излучение]]. Каждый элемент излучает на характерном для него наборе частот, и может быть по нему идентифицирован. Концентрации элементов определяются по интенсивности излучения.

===Подготовка образцов===
Для выполнения качественного микрозондового анализа поверхность образца должна быть отполирована и очищена. неровности приводят к нетипичному рассеиванию рентгеновских лучей и значительным ошибкам в определении концентрации элементов. Для того чтобы на поверхности образца не накапливался заряд, на него напыляют тонкую токопроводящую пленку, обычно углерод или золото.

===Ограничения метода===

#Не возможно определить различные [[валентность|валентные]] состояния атомов.
#Не определяются самые легкие элементы, с атомной массой меньше [[Углерод|углерода]].
#Высокий [[предел обнаружения]], можно определить концентрации элементов не ниже 0.05 %

===См. также===
* [[Рентгено-флюоресцентный анализ]]
* [[ионный зонд]]
* [[Лазерная абляция]]

* http://en.wikipedia.org/wiki/Microprobe

[[Категория:Методы анализа вещества]]