Метод Лауэ - История изменений

Petrographer в 11:59, 27 февраля 2010

Petrographer — Sat, 27 Feb 2010 11:59:08 GMT

← Предыдущая		Версия 11:59, 27 февраля 2010
Строка 16:		Строка 16:

	[[Category:Кристаллография]]		[[Category:Кристаллография]]
-	[[Category:~~Рентгено-структурный~~ анализ]]	+	[[Category:Рентгеноструктурный анализ]]

Eremin в 05:30, 7 апреля 2008

Eremin — Mon, 07 Apr 2008 05:30:31 GMT

← Предыдущая		Версия 05:30, 7 апреля 2008
Строка 16:		Строка 16:

	[[Category:Кристаллография]]		[[Category:Кристаллография]]
		+	[[Category:Рентгено-структурный анализ]]

127.0.0.1 в 01:19, 5 ноября 2006

127.0.0.1 — Sun, 05 Nov 2006 01:19:48 GMT

← Предыдущая		Версия 01:19, 5 ноября 2006
Строка 14:		Строка 14:

	'''Литература''': Геологический словарь,М:"Недра", 1978.		'''Литература''': Геологический словарь,М:"Недра", 1978.
-	~~[[Category:Словарные статьи]]~~	+
	[[Category:Кристаллография]]		[[Category:Кристаллография]]

Pavel в 07:46, 22 октября 2006

Pavel — Sun, 22 Oct 2006 07:46:23 GMT

← Предыдущая		Версия 07:46, 22 октября 2006
Строка 1:		Строка 1:
-
-
-
	<p align="JUSTIFY" > - способ получения дифракционной картины от неподвижного кристалла		<p align="JUSTIFY" > - способ получения дифракционной картины от неподвижного кристалла
-	при облучении его непрерывным спектром [[~~рентгеновских лучей~~\|рентгеновских лучей]].	+	при облучении его непрерывным спектром [[рентгеновское излучение\|рентгеновских лучей]].
	Пленка или пластинка, на которую фиксируется дифракционная картина, называется		Пленка или пластинка, на которую фиксируется дифракционная картина, называется
	лауэграммой. Рассмотрение ее дает возможность: 1) судить о кристалличности вещества;		лауэграммой. Рассмотрение ее дает возможность: 1) судить о кристалличности вещества;
-	2) установить [[~~симметрию~~ кристалла\|симметрию кристалла]]; 3) определить в некоторых	+	2) установить [[симметрия кристалла\|симметрию кристалла]]; 3) определить в некоторых
-	случаях угол наклона [[~~кристаллографической оси~~\|кристаллографической оси]] образца	+	случаях угол наклона [[кристаллографическая ось\|кристаллографической оси]] образца
	к первичному лучу. Расчет лауэграммы позволяет: 1) точно определить ориентировку		к первичному лучу. Расчет лауэграммы позволяет: 1) точно определить ориентировку
-	монокристалла; 2) определить и проверить отношения осей [[~~элементарной ячейки~~\|элементарной	+	монокристалла; 2) определить и проверить отношения осей [[элементарная ячейка\|элементарной ячейки]]. От лауэграммы нетрудно перейти к [[гномостереографическая проекция\|гномостереографическим проекциям кристаллов]] для определения символов отражающих систем плоских сеток. Это дает возможность следить за поведением плоских сеток кристаллов при тех или иных деформациях. Основная особенность лауэграммы - наличие большого числа интерференционных пятен, ложащихся на кривые линии - эллипсы и гиперболы,
-	ячейки]]. От лауэграммы нетрудно перейти к [[~~гномостереографическим проекциям кристаллов~~\|гномостереографическим	+	симметрично проходящие через центр рентгенограммы. Каждое пятно лауэграммы представляет собой след луча, отраженного от некоторой плоскости под углом Ø, определяющимся уравнением tg 2Ø=l/D, где l - расстояние пятна до центра рентгенограммы; D - расстояние от кристалла до образца.
-	проекциям кристаллов]] для определения символов отражающих систем плоских	+
-	сеток. Это дает возможность следить за поведением плоских сеток кристаллов при	+	''Э. П. Сальдау.''
-	тех или иных деформациях. Основная особенность лауэграммы - наличие большого	+
-	числа интерференционных пятен, ложащихся на кривые линии - эллипсы и гиперболы,	+
-	симметрично проходящие через центр рентгенограммы. Каждое пятно лауэграммы представляет	+
-	собой след луча, отраженного от некоторой плоскости под углом Ø, определяющимся	+
-	уравнением tg 2Ø=l/D, где l - расстояние пятна до центра рентгенограммы;	+
-	D - расстояние от кристалла до образца. ''Э. П. Сальдау.''	+

	----		----

-	'''~~Источник~~''': Геологический словарь,	+	'''Литература''': Геологический словарь,М:"Недра", 1978.
-	М:"Недра", 1978.	+
	[[Category:Словарные статьи]]		[[Category:Словарные статьи]]
	[[Category:Кристаллография]]		[[Category:Кристаллография]]

212.192.253.106 в 16:44, 11 октября 2006

212.192.253.106 — Wed, 11 Oct 2006 16:44:39 GMT

Новая страница

<p align="JUSTIFY" > - способ получения дифракционной картины от неподвижного кристалла
при облучении его непрерывным спектром [[рентгеновских лучей|рентгеновских лучей]].
Пленка или пластинка, на которую фиксируется дифракционная картина, называется
лауэграммой. Рассмотрение ее дает возможность: 1) судить о кристалличности вещества;
2) установить [[симметрию кристалла|симметрию кристалла]]; 3) определить в некоторых
случаях угол наклона [[кристаллографической оси|кристаллографической оси]] образца
к первичному лучу. Расчет лауэграммы позволяет: 1) точно определить ориентировку
монокристалла; 2) определить и проверить отношения осей [[элементарной ячейки|элементарной
ячейки]]. От лауэграммы нетрудно перейти к [[гномостереографическим проекциям кристаллов|гномостереографическим
проекциям кристаллов]] для определения символов отражающих систем плоских
сеток. Это дает возможность следить за поведением плоских сеток кристаллов при
тех или иных деформациях. Основная особенность лауэграммы - наличие большого
числа интерференционных пятен, ложащихся на кривые линии - эллипсы и гиперболы,
симметрично проходящие через центр рентгенограммы. Каждое пятно лауэграммы представляет
собой след луча, отраженного от некоторой плоскости под углом Ø, определяющимся
уравнением tg 2Ø=l/D, где l - расстояние пятна до центра рентгенограммы;
D - расстояние от кристалла до образца. ''Э. П. Сальдау.''

----

'''Источник''': Геологический словарь,
М:"Недра", 1978.
[[Category:Словарные статьи]]
[[Category:Кристаллография]]